本系列产品主要应用半导体封装测试，设备分左右两个测试箱，可同时为多层芯片带载测试，为芯片可靠性测试验证提供可靠环境。

本系列冲击试验箱采用冷热两箱结构，利用提篮快速转换试验样品到试验区域，达到冷热冲击试验目的； 该冲击方式最大限度的减少了冷热冲击时的热负载，缩短了温度恢复时间；变频自定算法控制，机组运行综合节能35%以上。

 本试验设备适用于环境应力筛选试验，通过产品进行应力筛选，加速检验产品在设计中和缺陷，提高产品的可靠性； 在快速温度循环试验可以找出产品出厂质量问题，是目前最有效最可靠的产品验证途径；变频自定算法控制，机组运行综合节能35%以上。

本试验箱适用于整机或大型零部件的低温、高温、高低温变化、恒定湿热、高低温交变湿热等试验。可根据用户要求改变工作室尺寸与功能，采用拼块式箱体，造型美观大方，科学的风道设计，能满足不同客户的需求。；变频自定算法控制，机组运行综合节能35%以上。

 电池环境试验箱是专门针对不同型号电池测试需要，在标准环境箱的基础上，根据不同的严酷等级配备安全防护功能，最大程度保证人员及财产安全；变频自定算法控制，机组运行综合节能35%以上。